歡迎咨詢本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；對樣品無破壞，可進行原位測試；，近年來，XAFS在國內(nèi)外各大小課題組研究過程中有著越來越普及的趨勢，尤其是越來越多此前在XAFS表征方面沒有太多經(jīng)驗的新用戶也逐漸通過多種渠道借力該技術(shù)進行深入的表征，提升研究檔次。

通常來說，這些性質(zhì)并非由原子的jue對位置所決定，而是由具有相互作用的原子的相對位置所決定，相對于平均晶體結(jié)構(gòu)，近鄰原子的相對位置對材料性質(zhì)的影響起著更為重要的作用，因此，微觀結(jié)構(gòu)的改變（localatomicdisplacements）對材料性質(zhì)具有十分重要的影響，即使其平均晶體結(jié)構(gòu)并未發(fā)生變化，根據(jù)上一節(jié)所說的原子對分布函數(shù)(PDF,Pairdistributionfunction)描述了在所研究材料中發(fā)現(xiàn)距離為r的一對原子的概率。

檢測精度同步輻射代算{工藝層層把關(guān)} 1. 離子濺射去除樣品表面層的時候，是對樣品表面一個特定區(qū)域進行濺射，還是同一次上樣的所有樣品都會被濺射到？ 答：是對一個區(qū)域，幾百微米到毫米級別。 2.C1s校正后，其他峰和標準峰峰位相差多少算合理？以及分峰的峰位相差在多少范圍內(nèi)合理？ 答：有些峰會偏移的大一些，一般情況，峰位相差0.5eV以內(nèi)，如果相差過大，需要考慮是否是校正存在問題。 3.峰擬合的時候，半高寬需要設置一樣嗎？ 答：一般情況，我們在初擬合的時候都是設置成一樣的，包括自旋軌道分裂峰，如果存在特殊情況，峰位相差較大，比如Ti2p、C=O是可以放開的，只要在0.7-2eV區(qū)間都是合理的。