光譜儀包括哪幾部分？入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

解讀直讀光譜儀操作注意事項(xiàng)：直讀光譜儀實(shí)用工作曲線的確定根據(jù)工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，確保分析精密度，須采用不同鋼種標(biāo)鋼分別制作工作曲線。做工作曲線的標(biāo)鋼數(shù)量應(yīng)該滿足分析合金的需要。由于分析試樣是從爐中快速取樣，與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織結(jié)構(gòu)、冶金履歷不一致，為了消除可能產(chǎn)生的偏高或偏低的系統(tǒng)誤差可采用控制試樣法。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會使工作曲線斜率改變，大體上只有平行移動。因此用和分析試樣的組織結(jié)構(gòu)和冶金履歷一致的控制試樣來校正曲線的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。

你知道原子發(fā)射光譜儀嗎？應(yīng)用原子發(fā)射光譜分析原理,快速定量分析塊狀,棒狀 等金屬樣品的化學(xué)成分的光電光譜儀。叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡稱就叫直讀，在國外沒有這個(gè)概念。其分析原理是樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜 線。 對選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強(qiáng)度進(jìn)行測量, 根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測元素的濃度的相互關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測元素的含量。