光譜儀包括哪幾部分？入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點。準直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

試樣面積應大于火花激發(fā)臺激發(fā)孔：一個重疊區(qū)域(小1mm),而且試樣表面應是均勻的、平整、紋理一致。試樣如不平整或者試樣面積小于激發(fā)孔將不能完全蓋住激發(fā)孔,使燃燒室不處于密封,試樣被激發(fā)時改變電流強度,從而影響預燃和曝光,使試樣燃燒不完全,導致光譜儀分析結(jié)果偏低。試樣表面要干凈不要被污染如用手觸摸:污染的試樣被激發(fā)時表面不能被沖洗干凈,并且沖洗下來的物體污染燃燒室,影響預燃和曝光,嚴重時光譜儀無法分析,輕微時會出現(xiàn)分析結(jié)果偏差大。試樣表面不能有砂眼、氣孔、裂紋等缺陷:因為缺陷會導致試樣被激發(fā)時電流強度改變,使試樣燃燒不完全,激發(fā)不良,光譜儀分析結(jié)果偏低。

你知道原子發(fā)射光譜儀嗎？應用原子發(fā)射光譜分析原理,快速定量分析塊狀,棒狀 等金屬樣品的化學成分的光電光譜儀。叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒有計算機采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計算機技術(shù)在光譜儀應用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計算機完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡稱就叫直讀，在國外沒有這個概念。其分析原理是樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進入光學系統(tǒng)被色散成元素的光譜 線。 對選定的內(nèi)標線和分析線的強度進行測量, 根據(jù)元素譜線強度與被測元素的濃度的相互關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測元素的含量。