涂層測(cè)厚常用方法：無(wú)損測(cè)厚法目前常用的儀器有磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩類。磁性測(cè)厚儀是根據(jù)磁性基體上非磁性鍍層對(duì)磁引力和磁感應(yīng)的影響而工作的。由于非磁性鍍層厚度不同，閉合磁路中的測(cè)通了發(fā)生相應(yīng)的改變，因此可利用磁阻法測(cè)定磁性基體上非磁性鍍層的磁阻來(lái)反映被測(cè)部分鍍層的局部厚度。渦流測(cè)厚儀是用載有高頻電流的探頭線圈在被測(cè)金屬鍍層表面產(chǎn)生高頻磁場(chǎng)作用，由此在金屬內(nèi)部產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗變化。隨著厚度的改變，由于探頭線圈與基體金屬表面之間的距離相應(yīng)變化，因而探頭線圈的阻抗發(fā)生變化。所以測(cè)出探頭線圈的阻抗值，就可以間接反映出鍍層被測(cè)部分的局部厚度?？墒褂谩?0%或以下誤差的不同結(jié)構(gòu)的不同型號(hào)的磁性測(cè)厚儀或渦流測(cè)厚儀。按照各種不同型號(hào)的儀器說(shuō)明書(shū)進(jìn)行操作。

涂層厚度檢測(cè)方法有哪些？涂層厚度的檢測(cè)，一般分為涂層平均厚度和局部厚度兩類檢驗(yàn)方法。由于局部厚度比平均厚度在實(shí)際應(yīng)用中更能反映產(chǎn)品的質(zhì)量，所以在多數(shù)情況下采用測(cè)量涂層的局部厚度或局部平均厚度。測(cè)厚時(shí)至少應(yīng)在有代表性或規(guī)定部位測(cè)量三個(gè)以上厚度，并計(jì)算其平均值作為測(cè)量厚度的結(jié)果。涂層厚度檢驗(yàn)方法有破壞檢測(cè)法和非破壞檢測(cè)法（無(wú)損檢測(cè)法）兩大類。破壞性檢驗(yàn)方法有“點(diǎn)滴法、液流法、化學(xué)溶解法、電量法（庫(kù)侖法）、金相顯微鏡法、輪廓法及干涉顯微鏡法等。非破壞檢驗(yàn)方法有：磁性法、渦流法、X射線熒光測(cè)厚法、β射線反向散射法、光切顯微鏡法及能譜法等。各種測(cè)量?jī)x器厚度范圍是不同的，對(duì)于不粘鍋涂層來(lái)說(shuō)，就可以通過(guò)磁性法或渦流法來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。

涂層測(cè)厚儀檢測(cè)不粘鍋涂膜質(zhì)量：根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求，不粘煎鍋、炒鍋的涂層平均厚度為大于或等于25微米；煮鍋、奶鍋的涂層平均厚度為大于或等于20微米。這是不粘鍋的一項(xiàng)重要指標(biāo)，會(huì)影響到不粘鍋的使用壽命和性能。只有涂層的厚度達(dá)到一定要求，鍋才能更好的耐酸、耐堿、耐鹽水腐蝕等，也不容易出現(xiàn)起皮、起泡、開(kāi)裂、縮孔等現(xiàn)象。對(duì)于不粘鍋的涂層厚度測(cè)量，要選用專業(yè)儀器涂層測(cè)厚儀進(jìn)行厚度分析，確保家用鍋的涂層厚度達(dá)到基本規(guī)范，然后進(jìn)一步提升涂層厚度性能，從而更好地實(shí)現(xiàn)“不粘”的效果。